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2023年2月1日,在2023年美国西部光电展览会上,布鲁克公司宣布发布两款新的白光干涉测量(WLI)系统:ContourX-1000和NPFLEX-1000光学轮廓仪。这些落地平台能够更快、自动化地测量表面结构和粗糙度。
新产品特有的新的一键式高级查找表面功能,具有自动对焦和自动照明功能,改善了用户体验并缩短获得结果的时间,消除了每次测量前手动注册表面的复杂性。结合自适应测量模式USI和引导式简化的VisionXpress界面,这种独特的功能可以在任何表面上以更高的吞吐量进行无损测量。
ContourX-1000具有操作人员友好的自动化测量和分析配方,为半导体和光电加工、先进封装开发和医疗设备制造的大批量生产设施提供最准确和精确的计量。NPFLEX-1000具有大型龙门和旋转头设计,为汽车、医疗和大规模增材制造行业的精密加工QA/QC中大型零件的难定位提供了独特的测量解决方案。
“自20世纪80年代以来,我一直在使用布鲁克光学轮廓技术,这些新系统是30多年发展的巅峰。”密歇根计量学创始人兼总裁Don Cohen说到,“通过我们新的WLI解决方案,这些功能得到了进一步提升,特别是考虑到非专业用户在几秒钟内获得高质量结果的可能性,而在普通系统上则需要几分钟。”
关于ContourX-1000 3D光学轮廓仪
ContourX-1000具有行业聚焦的布鲁克专利的尖端/倾斜头、自校准激光基准、集成模式识别和配方便携性。其通用扫描干涉测量法(USI)自适应测量模式自动确定最佳测量参数,并且引导式简化的VisionXpress界面使分析质量不受用户经验影响。这种独特的硬件和软件组合可以在最短的时间内获得最佳的测量结果,并为研发和制造带来最大的稳定性和工具对工具的匹配能力。
关于NPFLEX-1000 3D光学轮廓仪
NPFLEX-1000集成了ContourX-1000的所有易用性优势,具有大尺寸龙门和坚固的桥架结构。NPFLEX-1000系统在物镜、旋转头和超长工作距离物镜下方具有300 mm的空间,可提供样品尺寸的极大灵活性。此外,通过折叠镜选件,可显著扩展高坡度表面通道。这种极端的可用性可在无与伦比的速度下实现,可在10秒内进行快速、自动化的测量和全面的分析,显著提高生产环境的吞吐量。
文章来源:仪器信息网
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