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XRF（X射线荧光光谱分析）是一种利用X射线激发样品中的原子，使其产生次级X射线（荧光）来进行物质成分分析和化学态研究的技术。XRF技术通过测量这些次级X射线的能量和数量，来确定样品中各种元素的种类和含量。
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