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透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是一种用于观察物质微观结构的高分辨率显微镜。它利用高能电子束作为光源，通过电磁透镜聚焦电子束，使其穿过非常薄的样品，最终在荧光屏上形成放大的图像。这种技术能够提供比光学显微镜更高的分辨率和放大倍数，使得科学家能够观察到样品的原子级结构。透射电镜的工作原理基于电子束与样品相互作用，电子束在样品中传输时，受到样品内部结构的调制，从而在荧光屏上形成图像。电子束首先由电子枪发射，通过聚光镜和物镜的聚焦作用，形成一束非常细的电子束，这束电子束照射到样品上。样品中的原子与电子束相互作用，导致电子束的方向发生改变，这种改变反映了样品的内在结构。经过样品后的电子束被中间镜和投影镜进一步放大，最终在荧光屏上形成可见的图像。
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