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扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的重要观察手段。基本原理：SEM利用聚焦的高能电子束扫描样品表面，当电子束与样品相互作用时，会产生一系列信号，如二次电子、背散射电子、X射线等。这些信号携带着样品表面微观结构及其化学成分的信息，并被探测器收集，进而在屏幕上形成图像。SEM在科学研究和工业应用中占据了举足轻重的地位，广泛应用于材料科学、生命科学、物理学、化学、地质学以及工程学等众多领域。例如，在材料科学中，SEM可用于研究材料的表面形貌、微观结构以及组成分析；在生命科学中，SEM可用于观察生物样品的超微形貌结构信息。
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