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1、玉米籽粒分析：可测粒数、粒长、粒宽。胚尖不明显的籽粒不测定长宽，种子的长宽最后以有胚尖的种子长宽平均计算。能自动过滤掉胚尖不明显的籽粒。
2、玉米整穗分析，可以自动获得穗长、穗粗、秃尖长（其位置可编辑调整）、左右穗、缘角、穗行角、平均粒高（厚），包括所测的每粒宽度、粒色（种子颜色的R、G、B值）等。每粒玉米的高度（厚）可以鼠标滚轮来方便地调节修正。选配A3扫描仪，可自动获得5个果穗的平均分析值。
3、玉米截面分析，可以自动获得籽粒行数、穗粗、轴粗，以及截面上的平均粒长、平均粒宽参数。其中，籽粒行数=果穗中部截面图一圈的籽粒数量；穗粗=果穗外接圆的直径；轴粗=轴线圆的直径；粒长=（果穗外接圆的直径-胚尖位置线圆直径)/2；粒宽=(果穗外接圆周长+胚尖位置线圆周长)/2/籽粒排数。
4、截面分析：籽粒行数，轴粗，粒长，粒宽。可一次性自动测量至少15个截面。
5、整穗分析：果穗长度，穗粗，秃尖长，穗型，左右穗缘角，穗行角，平均粒高（厚），每粒玉米的高度（厚）。穗行数、穗粒数、可自动获得至少五个果穗平均分析值。
6、其他分析：千粒重，百粒重，籽粒产量。
玉米考种系统 - 仪器用途： 专业玉米籽粒、果穗、截面的精确考种以及出苗数、整齐度、均匀度分析。
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