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原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）是一种常用于观察和测量纳米尺度物体的高分辨率显微镜。其基本原理涉及使用一个非常微小的针尖，通过与样品表面的相互作用来测量和成像。原子力显微镜通过利用微悬臂和微小针尖与样品表面之间的微弱相互作用力，提供了对纳米尺度物体的高分辨率成像，广泛应用于科研和工业领域。
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