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FISCHERSCOPEX射线荧光镀层测厚仪介绍

FISCHERSCOPE X射线荧光镀层测厚仪介绍。...

 

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‌FISCHERSCOPE X-RAY XDLM这款仪器由德国菲希尔公司(Fischer)生产,主要用于测量和分析微小结构上的镀层厚度和材料成分。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM适用于各种应用场景,包括测量大规模生产的电镀零部件、微小区域上的薄镀层、电子工业或半导体工业中的功能性镀层等‌。该仪器配备了高分辨率的彩色视频摄像头和激光点,方便定位测量位置,确保高精度的测量结果‌。仪器设计有马达驱动的X/Y工作台和可编程的Z轴升降系统,支持全自动测量,适用于生产监控和批量测试‌。


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