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光电扫描法并非目前测试光斑直径的主流方法,但依旧用于一些点阵光源、大尺寸光源的测试中。逐点扫描的方法直观且价格低廉,但其不得不面临精度和速度不可兼得的问题,因为逐点扫描意味着需要位移台在每一个位置 均进行一次采集,
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