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功能特点：布鲁克红外原子力显微镜 Inspire
分辨率的纳米级化学和性质成像
◆Bruker’s Inspire系统在常规AFM成像速度下可获得纳米级的红外吸收和反射图像，不受间接手工操作的逼近的限制，或为用户增加使用的繁琐。该系统实时地将原子级的纳米力学成像与分辨率达10纳米的红外sSNOM 时空光谱成像以及的纳米电学测量相关联，简而言之，Inspire重新定义了原子力显微镜的应用。
Inspire 的出现，*次将分辨率纳米尺度下的化学和性质成像与的AFM技术和的AFM性能结合:
◆采用直接光学逼近方法获得分辨率的纳米化学性质表征和等离子基元效应
◆布鲁克公司独有的PeakForce Tapping技术可提供较为精准的定量纳米机械性质的成像
◆全新的PeakForce IR技术可以实现以往技术难以实现的纳米化学性质的成像
◆利用ScanAsyst自动优化图像和集成的sSNOM光学系统可快速的获得数据的成像技术——操作简单
◆Inspire 使用sSNOM直接光学的反射和吸收成像以获得的空间分辨率和灵敏度的纳米化学信息。以往需多年的专业技术和数周的搭建时间获得的实验数据，Inspire的集成光学系统可以更快更简单的实现。PeakForce Tapping（峰值力轻敲）技术及智能成像模式保证了即使是初学者也可以在几分钟之内获得专家级的AFM成像质量。
技术参数：布鲁克红外原子力显微镜 Inspire
光路系统
◆集成红外散射SNOM系统:
◆包含必需的光学器件, 激光和检测器;
◆高质量的宽频光学元件;
◆低噪音, 液氮冷却的探测器;
◆精确的干涉仪控制系统;
◆低噪声量子级联激光器光源;
◆优化的近场采集和激发光路
AFM扫描头
◆可支持应用模块的AFM扫描头(可支持所有选择模式)
扫描器
◆125μm x 125μm (X-Y) x 5μm( Z range); 可以根据需求选择其他扫描器
控制器
◆NanoScopeV 控制台, 配v9.0 Nanoscope实时控制软件;
◆NanoScope v1.5 分析软件;
◆Windows 7 操作系统
模式 :
扫描探针红外模式:
◆IR sSNOM 在 TappingMode and PeakForce IR模式下运行
常规成像模式:
◆智能成像模式
◆峰值力轻敲模式
◆轻敲模式
◆接触模式
◆扭转共振模式
◆扫描隧道显微镜
◆摩擦力显微镜
◆相位成像
可选择的材料表征模式:
◆PeakForce KPFM——纳米级热分析
◆导电原子力显微镜——液态成像
◆PeakForce TUNA——电化学原子力显微镜
◆PeakForce QNM——纳米压痕
◆PeakForce Capture——压电力显微镜
◆力曲线阵列 ——电场力和磁力显微镜
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